Kore的TOF-SIMS SurfaceSeer亮相Innovia Films

飞行时间二次离子质谱法（TOF-SIMS）是一种高度灵敏的表面分析技术，可揭示样品顶部几个原子层的质谱数据。Kore 很荣幸成为 Innovia Films 的 TOF-SIMS 供应商，Innovia Films 是一家材料科学公司，为包括标签、包装以及钱币在内的各种产品生产基础膜。

Innovia Films 与 Kore 接洽，要求研究其高度差异化的双向拉伸聚丙烯 （BOPP） 薄膜的不同表面处理。Kore 设计的 SurfaceSeer 仪器成为 Kore 后续 TOF-SIMS 仪器的基础，并为 Innovia 提供了所需的功能。该仪器安装在Innovia的研发设施中，在此后的日常使用中一直被用于研究和提供产品质量保证。他们du*特的“气泡工艺”对近四层楼高的巨大管状薄膜气泡充气，然后对其进行加热、拉伸、轧制和工程设计，以创造高度复杂的印刷、纹理、耐用的钱币和其他塑料产品。

“气泡工艺”用于生产 Innovia 的专业薄膜产品，包括钱币。巨大的气泡被充气到近四层楼的高度。

项目经理 Vitalija Kendall 主要使用 TOF-SIMS 仪器来寻找表面的任何类型的污染。她解释说：“污染经常被转化为聚二甲基硅氧烷 （PDMS），其中一些化合物的存在会导致材料性能问题，例如油墨粘附性和适印性。这些失败可能会导致投诉，从而导致经济损失。SurfaceSeer S 是防卫投诉的主力军。

该仪器是在 Kore 定制设计的，以满足 Innovia 的价格预算。“对于我们制造的同性质薄膜，仅使用光谱法的 TOF-SIMS 可以满足我们 99% 的要求。主要源包括一个聚焦到 ~100um 的 5keV Ar 离子束，具有 30eV 电子电荷中和功能，以允许分析我们的绝缘膜。样品抽真空时间为 1-2 分钟，数据采集时间仅为 2-5 分钟，我们每天可以分析大量样品。我们的实验室里还有其他表面技术，但没有一种技术具有如此的表面敏感性。

Kore 和 Innovia 密切合作，确保仪器成功运行并最大限度地减少停机时间。这种紧密的售后支持证明了 Kore 对世界各地努力工作的客户和仪器的持久关怀。“Kore 在应用程序、性能、问题解决和知识传授方面提供了出色的支持，”Vitalija 说。

项目经理 Vitalija Kendall 说：“Kore 了解我们的需求，并与我们合作提供适合用途的仪器，使 Innovia Films 拥有原本无法具备的分析能力。这为 Innovia Films 提供了市场优势。