安捷伦 Cary UV-Vis-NIR 展现优势性能,助力亚纳米级窄带滤光片精准表征
窄带滤光片是精密光学系统的关键元件,可通过选择性透过特定波长来实现光谱纯化、波长隔离等功能,在光谱分析中扮演着关键角色。传统窄带滤光片的半高宽 (FWHM) 通常在 10nm 左右,而亚纳米级 (< 1nm) 滤光片的表征对测量仪器的性能提出了极高要求。
面对严苛要求带来的技术挑战,安捷伦 Cary UV-Vis-NIR 分光光度计凭借超高的光谱分辨率脱颖而出,能够精准实现低至 0.12nm FWHM 滤光片的光谱特性表征,满足应用需求。与此同时,其具备智能化的 S/N 控制功能,可以动态调节扫描速度和光谱信噪比,使得光谱质量和测试效率均得到有效提升。

图 1. SBW 对滤光片的影响
窄带滤光片测试条件:
仪器配置:
Agilent Cary 5000/6000i UV-Vis-NIR
光路设置:
样品光路 2 个 1mm 光阑(样品前后各 50mm)
参考光路 2 个 5mm 光阑(配有 1.1 Abs 的后光路衰减器)
关键参数:
◆
光谱带宽 (SBW) ≤ 0.040nm
◆
双光束模式 + 独立控制标签激活
◆
信号平均时间 ≥ 5 秒(信噪比优化)


图 2. 窄带滤光片的光谱图
安捷伦 Cary UV-Vis-NIR 具有优异的硬件系统设计,可将 SBW 设置低至 0.040nm 以满足亚纳米级分辨率的测试需求。同时,通过光阑和温度控制,可以有效减少波长漂移,采用智能的信噪比控制功能还可灵活优化扫描时间,提升效率。综上可见,安捷伦 Cary UV-Vis-NIR 显然是表征窄带滤光片的理想工具,为科研与工业应用提供了可靠的数据支持!
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